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在精密制造領域，平面度測量是評價工件質量的關鍵指標。白光干涉輪廓儀作為一種非接觸式光學測量儀器，憑借其納米級的分辨率和快速測量能力，已成為平面度檢測的重要工具。西班牙Sensofar平面度測量白光干涉輪廓儀的核心原理是基于白光干涉的相干測量技術。儀器通過分光鏡將光源分為測量光和參考光，當兩束光重新匯合時會產生干涉條紋。通過精密CCD相機捕捉干涉圖像，結合相移算法，可以重建出被測表面的三維形貌?，F(xiàn)代儀器的垂直分辨率可達0.1nm，橫向分辨率達到1μm，測量速度比傳統(tǒng)接觸式測量快...

新世代的大范圍計量工具Swide是專用系統(tǒng)，適用于快速測量大樣品區(qū)域，測量面積最高可達300x300mm。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優(yōu)點。一鍵式采集功能，易于使用。解決方案大面積3D光學測量系統(tǒng)先進制造業(yè)考古學與古生物學消費類電子產品醫(yī)療設備模塑光學鐘表業(yè)關鍵特性整個拼接擴展區(qū)域都擁有亞微米高度重復性。無需Z軸掃描即可測量最高40mm的單次測量高度。具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量。與3DCAD模型的形狀偏差提供幾何差異和公差測量可追溯性表面紋...

隨著科學技術的發(fā)展，各類法醫(yī)和犯*現(xiàn)場證據(jù)的微觀分析對偵破案件的重要性日益增強。電鏡作為一種高分辨微觀工具，在法醫(yī)和犯*現(xiàn)場搜證方面有巨大的應用價值。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡，利用其超高的圖像分辨率，可以觀察到肉眼無法識別的細微痕跡，為警方提供詳盡而關鍵的物證，科學地偵破許多看似復雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中，ZEM18掃描電鏡可以通過人體組織內殘留的硅藻種類、數(shù)量和狀態(tài)判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外，ZEM18掃描電鏡可以檢測現(xiàn)場殘留物，如受害者衣...

三維共聚焦白光干涉儀作為現(xiàn)代精密測量領域的先進儀器，在微觀形貌測量中展現(xiàn)出杰出的性能和廣泛的應用價值。這種先進的測量設備融合了共聚焦顯微技術和白光干涉技術，為科研和工業(yè)領域提供了強有力的技術支持。1.在性能方面，三維共聚焦白光干涉儀具有納米級的分辨能力，能夠精確測量微觀表面的三維形貌特征。其垂直分辨率可達0.1納米，橫向分辨率可達0.5微米，這種高精度的測量能力使其在半導體、光學元件等精密制造領域發(fā)揮著關鍵作用。同時，該儀器具有較大的測量范圍，可實現(xiàn)從納米到毫米級的跨尺度測量...

當今工業(yè)領域對于產品的質量和安全性的要求越來越高，因此需要高效、準確的檢測技術來保障產品的品質。掃描電鏡作為一種高分辨率、高靈敏度的成像技術，已經在工業(yè)領域得到了廣泛應用。從微觀結構到表面形貌的檢測，掃描電鏡都能夠提供精確的信息。除了高分辨率成像外，掃描電鏡還具有能夠對樣品進行定量化分析的能力。例如，掃描電鏡可以對化學成分、尺寸、形狀等物理參數(shù)進行定量分析。這種定量分析能力使掃描電鏡成為了工業(yè)檢測領域中不可或*的工具。本期內容，我們將會一起探討ZEM18掃描電鏡在工業(yè)檢測上的...

我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關新功能的信息，有一個演示該系統(tǒng)在CMP過程的案例研究以及我們在中國的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運用于電動車的高容量商業(yè)鋰離子電池正極材料。然而，在循環(huán)過程中的結構劣化會造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產生的層間滑移（planargliding）和晶內微裂紋（microcracking）為結構劣化的主要表現(xiàn)形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區(qū)間發(fā)生的*有現(xiàn)象，即為在退鋰過程中，垂直c軸的（003）層狀晶面在低電壓區(qū)間緩慢膨脹，高壓區(qū)間（約4.1V以上）快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...

偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡，在科研領域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現(xiàn)在對樣品微觀結構的精細觀察上，還體現(xiàn)在對樣品性質的深入分析上。以下將詳細闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優(yōu)勢。一、重要作用揭示樣品微觀結構：偏光顯微鏡能夠利用偏光現(xiàn)象增強樣品中的細節(jié)和對比度，從而清晰地揭示樣品的微觀結構。這對于材料科學、地質學、生物學等領域的科研工作者來說至關重要，因為他們需要深入了解樣品的內部結構以揭示其性質和功能。分析樣品光學性質：通過偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...